|
ホーム
|
製品情報
|
アプリケーション
|
テクニカルサポート
|
展示会・セミナー
|
お問い合わせ
|
会員制サービス
拠点紹介
サイトマップ
English
音声読み上げ・文字拡大
製品情報
大形試料も観察可能なセミインレンズ形、特定部位の分析と超高分解能を両立したセミインレンズ形、高分解能観察評価と同時に材料分析も可能にしたアウトレンズ形などのFE-SEMラインアップを紹介します。
検索 by google
> 詳細な検索
製品名をクリックすると、詳細をご覧いただいた後に、カタログ請求ができます。
お急ぎの方は、下記製品欄の“カタログ請求”にチェックを入れ、”選択したカタログを請求する“ボタンを押してください。
現在のカタログ請求を見る
分光分析装置（UV-Vis/NIR、FL他）
原子吸光分析装置（AA）
発光分光分析装置（ICP）
液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計他）
臨床検査用装置
質量分析装置（LC-MS、GC-MS他）
電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
走査型プローブ顕微鏡（SPM）
電子顕微鏡周辺装置
電磁気分析装置（NMR、X線回折装置他）
電気化学分析装置（滴定、水質、水分測定他）
その他分析装置（ガスバリア試験装置他）
受託解析サービス
予算申請用/研究分野別カタログ
電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
走査電子顕微鏡（SEM）
Miniscope（R）（卓上顕微鏡）
透過電子顕微鏡（TEM/STEM）
ナノ・プローバ（R）
日立超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡SU9000
価格 ： お問い合わせください
新開発の電子銃の搭載により超高分解能観察を実現し、かつ電子線による観察時の試料ダメージの軽減を可能にしました。
>>詳細はこちら
カタログ請求
日立超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡SU8200シリーズ
価格 ： お問い合わせください
新開発のコールドFE電子銃は、電子源にガス分子が付着する前の高輝度安定領域を利用することで、高輝度で長時間安定したエミッション電流を実現しています。これにより、低加速電圧条件下でも大きなプローブ電流が得られ、明るく、S/Nに優れた画像を提供し、安定性と信頼性のある画像観察を可能にしています。
>>詳細はこちら
カタログ請求
日立超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡SU8000シリーズ（SU8010/8020/8030/8040）
価格 ： お問い合わせください
高い汎用性と超高分解能観察性能を両立させたFE-SEM「SU8000シリーズ」は、4機種ラインナップ！
多種多様なアプリケーションに合わせた最適の装置をご提案します。
>>詳細はこちら
カタログ請求
日立超高分解能分析走査電子顕微鏡SU-70
価格 ： お問い合わせください
超高分解能観察と多様な分析を一台で対応。
セミインレンズ技術とショットキー電子銃を組み合わせた新しいコンセプトの装置です。
>>詳細はこちら
カタログ請求
日立低真空分析走査電子顕微鏡SU6600
価格 ： お問い合わせください
ショットキーFE電子銃を搭載し、優れた分析機能と安定した電子ビーム電流を両立。高分解能観察評価と同時にEDX、WDX、EBSPといった分析装置による材料分析が可能となった最新の低真空機能付き分析走査電子顕微鏡です。
>>詳細はこちら
カタログ請求
ページトップへ
| サイトの利用条件
|
個人情報保護について
