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製品情報


大型試料室対応や、装置本体の小型化を図ったアウトレンズ形熱電子銃SEMの3製品のラインアップを紹介します。
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分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL他)
原子吸光分析装置(AA)
発光分光分析装置(ICP)
液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計他)
臨床検査用装置
質量分析装置(LC-MS、GC-MS他)
電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)
集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)
走査型プローブ顕微鏡(SPM)
電子顕微鏡周辺装置
電磁気分析装置(XRF、膜厚測定装置、NMR他)
熱分析装置・粘弾性装置
電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定他)
その他分析装置(ガスバリア試験装置他)
予算申請用/研究分野別カタログ
電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
走査電子顕微鏡(SEM)
Miniscope(R)(卓上顕微鏡)
透過電子顕微鏡(TEM/STEM)
ナノ・プローバ(R)
 走査電子顕微鏡SU3500
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高画質化によるSEM解析力や操作性の向上を目的に、日立ハイテクのコア・コンピタンスである"匠の技術"を集結。
SU3500が、観察・分析の新基準をご提案します。
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 走査電子顕微鏡S-3700N
価格 : お問い合わせください
300mm径の大型試料に対応したS-3700Nが非破壊観察の新たな道を開きます。
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 走査電子顕微鏡S-3400N
価格 : お問い合わせください
低加速電圧(3kV)の保証分解能を10nmに向上させた新形SEMです。また新開発した自動軸調整機能を採用し、より使いやすいSEMをコンセプトに操作系を向上させました。排気系にはTMPを標準装備し迅速な立ち上げ、クリーンかつ省電力を実現しています。
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 走査電子顕微鏡SU1510
価格 : お問い合わせください
装置本体の幅を55センチとし、小型化を図りながらも、3.0nmの像分解能性能を持ち合わせた「小さくて高性能」なN-SEMです。
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