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日立暗視野式ウェーハ欠陥検査装置 ISシリーズ

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製品写真:日立暗視野式ウェーハ欠陥検査装置 ISシリーズ

高感度検出と高スループット検査による高速製品モニタリングを実現

歩留まり向上と生産コスト削減に貢献する次世代 対応暗視野式ウェーハ欠陥検査装置

セクションタイトル特長

高感度検出と高スループット検査を両立

  • 暗視野式イメージング方式により、高感度、高速モニタリングを実現。

マルチモード検査機能搭載により検出能力向上

  • Killer工程での高感度検査とモニタリング工程での高スループット検査などに切り替え可能。検査可能な工程が拡大。

ユーザフレンドリな操作性

  • シンプルなパラメータ設定によるレシピ作成。

解析サポート機能による歩留まり向上支援

  • ディフェクトレビューSEMとのスムーズなリンクにより、検出欠陥の観察が可能。

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テクニカルレポート

日立ハイテクデバイス関連機器の技術情報を掲載しています。