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日立暗視野式ウェーハ欠陥検査装置 ISシリーズ
高感度検出と高スループット検査による高速製品モニタリングを実現
歩留まり向上と生産コスト削減に貢献する次世代 対応暗視野式ウェーハ欠陥検査装置
特長
高感度検出と高スループット検査を両立
暗視野式イメージング方式により、高感度、高速モニタリングを実現。
マルチモード検査機能搭載により検出能力向上
Killer工程での高感度検査とモニタリング工程での高スループット検査などに切り替え可能。検査可能な工程が拡大。
ユーザフレンドリな操作性
シンプルなパラメータ設定によるレシピ作成。
解析サポート機能による歩留まり向上支援
ディフェクトレビューSEMとのスムーズなリンクにより、検出欠陥の観察が可能。
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