|
ホーム
|
製品情報
|
展示会・セミナー
|
ニュース
|
お問い合わせ
|
Worldwide
|
国内拠点
サイトマップ
音声読み上げ・文字拡大
ホーム
>
製品情報
>
バンプ関連・半導体後工程装置
> SiPボンダー(System in Package用ダイボンダー) DB-700
SiPボンダー(System in Package用ダイボンダー) DB-700
SiP(System in Package)組立可能な300mmウェーハ対応、高速・高精度エポキシダイボンダー。
特長
複数の装置のシステム化により、MCP・SiP等の新パッケージ組立が可能。
薄チップピックアップ技術(〜25
層);超音波ピックアップ、多段ピックアップ。
世界に先駆けた、ダイボンダーDB-730のフレキシブル性に加え軽量、小型化を実現。
ページトップへ
検索 by google
> 詳細な検索
半導体プロセス装置
半導体計測・検査装置
バンプ関連・半導体後工程装置
日立ウェーハはんだバンプ外観検査装置 WB3200
日立ウェーハ金バンプ外観検査装置 WB3100
SiPボンダー(System in Package用ダイボンダー) DB-700
SiPマウンター(System in Package用チップマウンター) CM-700
リユース(中古)情報
電子顕微鏡・FIB・周辺装置
テクニカルレポート
日立ハイテクデバイス関連機器の技術情報を掲載しています。
関連リンク
電子顕微鏡・FIB・周辺装置