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製品写真:(OXFORD社製)結晶方位解析装置 INCA Crystal / HKL S20 / HKL F400

矩形のスクリーンで定評のある高感度カメラNordlysII にさらに高速のカメラF400が加わり3機種の中から最適な機種をお選びいただけます。INCA Crystal とHKL Sは、共に定評ある高感度、高分解能カメラを使用しソフトウェアだけが異なるシステムです。微弱な菊池パターンの認識と正確な指数付けでTiAlなどの難しい結晶の方位も判別できます。低倍での広域スキャンなどのアプリケーションにも対応しています。HKL F400 は毎秒400ポイントを保証する最高速カメラとさらに使いやすいユーザーインターフェースにより分析効率が飛躍的に高まります。

製品写真:(EDAX社製)結晶方位解析装置 TSL OIMシリーズ

TSL OIMはグローバルスタンダードのEBSD装置で、正確なミクロ組織の解析が行なえます。

  • 万能型OIM検出器DigiView IIIはEBSDパターンを用いた歪測定を含めたすべてのアプリケーションに対応
  • オーソライズされた指数付け精度を表示(特許)
  • 六角形ピクセルによる測定で粒界を正確に表現
  • Genesis にインテグレートできEDSとの同時分析による高精度の相判定(特許)
製品写真:(EDAX社製)結晶方位解析装置 TSL OIMシリーズ HIKARI検出器

TSL HIKARI検出器は最新技術の粋をあつめたハイスピードOIM検出器で以下の特徴があります。

  • 最速200点インデックス/秒
  • インテグレーションFSD
  • PCコントロールスライド
  • タッチセンサーによる衝突防止安全回路

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