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2008表面観察・分析セミナー

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セミナーのご案内

拝啓 時下ますますご清祥の段、お喜び申し上げます。平素は格別のお引き立てをいただき、厚くお礼申し上げます。
さて、毎年開催しております技術講演会ですが本年もご案内申し上げます。皆様のお仕事の上で少しでもお役に立てることができましたら幸いです。
新年早々で、お忙しいとは存じますがぜひとも参加賜りますようお願い申し上げます。

敬具

会期 2008年1月17日(木) 10:00 〜 16:40 : 松本会場 締切りました
2008年1月18日(金) 10:00 〜 16:40 : 長野会場 締切りました
*会場受付は、9:30より開始いたします。
場所 【松本会場】 長野県松本文化会館 第二会議室
(住所:松本市水汲69-2)
【長野会場】 ウェルシティー長野 樹林
(住所:長野市七瀬中町276-6)
講演内容 プログラムの通りです
定員 各会場 50名
ただし、同部署より多数お申し込みにより定員をオーバーした場合は、受付人数を制限させていただくことがあります。あらかじめご了承ください。
締切 2008年1月15日(火) 両会場、締切りました
*1月9日(水)〜15日(火)までに回答いたします。
*回答が未着の場合はご連絡ください。
参加費 無料
問い合わせ先 (株)日立ハイテクノロジーズ
解析装置一部2課 高木 幸太
TEL:03-3504-7686/FAX:03-3504-7745

プログラム

時間 演題 講演者(敬称略)
10:00〜10:05 開会の挨拶
10:05〜11:00 FT-IR/Ramanによる微小異物分析・最新テクニックのご紹介 サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
スペクトロスコピー営業本部
応用技術部
11:00〜12:00 微小物サンプリングテクニックのご紹介 〜5マイクロメートル異物への応用〜 (株)マイクロサポート
12:00〜13:00 昼食(準備いたします)
マイクロマニピュレーター Axis-Proの実演がご覧いただけます。
13:00〜13:50 SEM観察テクニックと低真空SEMラインアップのご紹介 (株)日立ハイテクノロジーズ
那珂アプリケーションセンタ
13:50〜14:20 新型FE-SEM SU6600形のご紹介 (株)日立ハイテクノロジーズ
先端製品営業本部 営業技術部
14:20〜14:50 新型FIB-SEM装置 NB5000形のご紹介 (株)日立ハイテクノロジーズ
先端製品営業本部 営業技術部
14:50〜15:00 休憩
15:00〜15:30 EBSD-結晶方位解析-を始める為に
オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
15:30〜16:00 新型EDXのご提案と分析事例のご紹介
(株)堀場製作所
分析センター
アプリケーションチーム
16:00〜16:30 内部構造観察の必要性とイオンミリングによる加工例 (株)日立ハイテクノロジーズ
先端製品営業本部 営業技術部
16:30〜16:40 閉会の挨拶

*演題、講演時間等につきましては、予告無く変更する事がございます。予めご了承ください。

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