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第4回 日立ナノ解析技術セミナー

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セミナーのご案内

拝啓 時下ますますご清栄のこととお慶び申しあげます。また、平素より日立分析機器に格別なるお引立てを賜り厚く御礼申しあげます。
さて、本セミナーは皆様のご支援により第4回目を迎えることになりました。今回も、次世代の材料・半導体関連の解析に対応する新技術を中心に紹介させていただきます。
また、講演会の最後には自由討論と致しまして、ご参加の皆様、講演者、メーカー間で個別に意見交換していただきますようクロストーキングの場を設けておりますので、併せてご参加賜りますようお願い申しあげます。

敬具

会期 2008年3月14日(金) 13:00 〜 19:00
*会場受付は、12:30より開始いたします。
*17:35〜19:00は、クロストーキングを予定しております。
場所 pdfファイルを開く天神ビル(PDF:68KB) 11F会議室
住所:福岡市中央区天神二丁目12番1号
アクセス方法:地下鉄「天神駅」より徒歩約3分
講演内容 プログラムの通りです
定員 70名
*原則として、先着順とさせていただきます。
*ただし、同部署より多数お申し込みにより定員をオーバーした場合は、受付人数を制限させていただくことがあります。あらかじめご了承ください。
締切 2008年3月12日(水)−締切りました−
※回答FAXが3/12(水)までに未着の場合はご連絡ください。
参加費 無料
問い合わせ先 (株)日立ハイテクノロジーズ 九州支店
半導体製造装置部1課 森 健一
TEL:092-721-3517 FAX:092-721-3518

プログラム

時間 演題 講演者(敬称略)
13:00〜13:05 開会の挨拶
13:10〜13:55 【特別講演】
分析技術を駆使した研究開発と課題解決 〜電子線アナリシスとマイクロCT〜
TOTO(株)
総合研究所 分析技術部
青島 利裕
13:55〜14:35 日立FE-SEMラインアップと最新アプリケーションのご紹介 (株)日立ハイテクノロジーズ
那珂アプリケーションセンタ
多持 隆一郎
14:35〜15:05 最新EDXと前処理装置のご紹介 (株)堀場製作所
分析センター
石川 純代
15:05〜15:20 コーヒーブレーク
15:20〜16:10 日立最新TEM/STEMの特長と応用例のご紹介 (株)日立ハイテクノロジーズ
那珂アプリケーションセンタ
上野 武夫
16:10〜16:40 日立新型FIB-SEMのご紹介 (株)日立ハイテクノロジーズ
営業技術部
石川 尚史
16:40〜17:30 【特別講演】
大型鉄鋼材料におけるナノテクノロジー
日本鋳鍛鋼(株)
生産技術部 技術統括グループ
三上 真人
17:30〜17:35 閉会の挨拶
17:35〜19:00 クロストーキング

*演題、講演時間等につきましては、予告無く変更する事がございます。予めご了承ください。

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