2008分析展
新技術説明会
| 会場 |
アパホテル＆リゾート 東京ベイ幕張ホール |
| 受講料 |
無料 （事前登録制） |
9/3（水）
14：15〜14：40 |
【01-3】
日立集束イオン/電子ビーム加工観察装置
nanoDUE'T® NB5000のご紹介 |
9/3（水）
15：35〜16：00 |
【01-4】
電界放出形透過電子顕微鏡のご紹介 |
9/4（木）
11：35〜12：25 |
【02-6】
極低加速電圧SEMによる最表面形態観察の最先端！ |
9/4（木）
14：30〜14：55 |
【02-9】
日立イオンミリング装置の断面作製技術のご紹介 |
9/5（金）
13：10〜13：35 |
【03-11】
日立卓上顕微鏡Miniscope®＋専用EDX SwiftED-TMのご紹介 |
新技術説明会のお申込み（事前登録）はこちらから 終了しました
ブース内セミナー
| 会場 |
日立ハイテクブース セミナーコーナー |
| 受講料 |
無料 （事前登録制） |
| 【G】 汎用性・簡易操作を追及した日立熱電子銃SEMラインアップのご紹介
|
9/3（水）14：30〜14：50 |
9/4（木）15：30〜15：50 |
9/5（金）10：30〜10：50 |
| 【H】 新形FE-SEM SU8000の新機能紹介と最表面形態観察の最先端！ |
9/3（水）15：00〜15：20 |
9/4（木）16：00〜16：20 |
9/5（金）11：00〜11：20 |
| 【I】 イオンミリングの必要性 -SEM観察用断面試料加工例について |
9/3（水）15：30〜15：50 |
9/4（木）16：30〜16：50 |
9/5（金）11：30〜11：50 |
ブース内セミナーのお申込み（事前登録）はこちらから 終了しました
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