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ナノアート 1998年度作品
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直接加熱方式の試料加熱ホルダーと簡易型雰囲気試料反応室を用い、タングステン線ヒーターに付着させたSi粒子を加熱することにより、成長させたSi-W-Oウィスカー結晶の高分解能TEM像です。酸化したSi粒子の表面にまっすぐに成長した姿は超高層ビルを思い浮かばせます。 1998年（第54回） 日本電子顕微鏡学会 写真コンクール金賞受賞作品 |
試料 ： Si-W-O ウィスカー
測定装置 ： 電子顕微鏡 H-9000NAR
撮影倍率 ： 200,000倍
加速電圧 ： 300 kV
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