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ナノアート 2000年度作品
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高密度化する記録デバイスの読み込みを行うためのレーザー発生領域（625 nm）の様子をCL像を使って観察することができました。これは次世代へ向けてはばたく我々の希望の光のようです。 2000年（第56回） 日本電子顕微鏡学会 写真コンクール出展作品 |
試料 ： レーザーダイオード
測定装置 ： 走査電子顕微鏡 S-4200特SE＋カソードルミネッセンス
撮影倍率 ： 4,000倍
加速電圧 ： 25 kV
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