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ナノアート 2000年度作品

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セクションタイトルCross sectional observation of the earth

作品画像:Cross sectional observation of the earth

超能力を持つエイリアン、写真はそのエイリアンが攻撃目標に定めた地球の透視像。この観察の狙いは地球の弱点を見つけることに有ります。手前に見えるのは月。地球攻略のベースキャンプの場所を探しています。観察の目的に合わせ、異なった種類の像を同時にみる、エイリアンの能力を持ってすれば朝飯前のことです。地球危うし!
実はこの試料、Fe微粒子を各二層のTiO2およびSiO2で覆った高機能性ストラティファイド粒子です。手前の月に見えるのがそのSEM像、奥の地球に見えるのがFIB加工で作製した薄膜の断面STEM像で、どちらも200 kVで観察したものです。

2000年(第56回) 日本電子顕微鏡学会 写真コンクール出展作品

撮影条件

試料 : ストラティファイド粒子(光干渉反射型着色磁性粒子)
測定装置 : 超薄膜評価装置 HD-2000
加速電圧 : 200 kV

試料ご提供 : 東北大学 本部 中塚勝人様、東北大学 田路和幸様 

  • 作成者の所属情報は一部作成当時の情報です。
  • この作品は日本顕微鏡学会主催、「写真コンクール」に出展された作品です。
  • nanoartに掲載された写真、文章の無断転載を禁じます。
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  • 「nanoart」は(株)日立ハイテクノロジーズの日本国内における登録商標です。

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