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ナノアート 2005年度作品
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世界初、試料を180°回転しながら観察した電子線回折像です。［110］を中心とした合計13個の電子回折像が欠落なく連続的に観察されています。中央はその観察に用いた試料のSEM像です。試料はFIBマイクロサンプリング法により直径0.2 2005年（第61回） 日本顕微鏡学会 写真コンクール最優秀作品賞受賞作品 |
試料 ： シリコン(Si)単結晶
測定装置 ： 透過電子顕微鏡 H-9500
加速電圧 ： 300 kV
カメラ長 ： 0.5 m
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（株）日立ハイテクノロジーズ 今野充、矢口紀恵、上野武夫、橋本隆仁、大西毅 
の円柱状に加工し、試料回転ホルダーを用いて観察しました。電子顕微鏡による三次元ナノ構造解析がまた一歩、進歩しました。
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