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0-9

型式 製品名
601 （GATAN社製）超音波ディスクカッター
682PECS （GATAN社製）精密エッチング・コーディング装置
683Met-Etch （GATAN社製）金属・材料系用エッチング装置
691PIPS （GATAN社製）イオンポリッシング装置　
656 （GATAN社製）ディンブルグラインダ

A-C

型式 製品名
AMC-7600 （APCO社製）断面SEM試料作製システム
AMC-7800 （APCO社製）断面SEM試料作製システム
AMC-8000 （APCO社製）断面SEM試料作製システム
BAF060 （BAL-TEC社製）フリーズレプリカ作製装置
CT-3500 （OXFORD社製）TEM用クライオトランスファーシステム　
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E-G

型式 製品名
E-1010 日立イオンスパッタ
E-1045 日立イオンスパッタ
E-3500 日立イオンミリング装置
EH-1500 （タイテック社製）TEM用 冷却水循環装置
EH-3750 （タイテック社製）TEM用 冷却水循環装置
EM AFS2 （LEICA社製）凍結置換システム
EM CPC （LEICA社製）急速凍結 クライオプレパレーションシステム
EM FCS （LEICA社製）クライオセクショニングシステム
EM FC6 （LEICA社製）クライオセクショニングシステム
EM UC6 （LEICA社製）ウルトラミクロトーム
EMAX-ENERGY （堀場社製）エネルギー分散型X線分析装置
EMAX x-act （堀場社製）＜液体窒素レス新型検出器＞Ｘ線検出器
ES-2030 日立凍結真空乾燥装置
FB-2100 日立集束イオンビーム加工観察装置
Genesisシリーズ （EDAX社製）エネルギー分散型X線分析装置　
GIF 2000シリーズ （GATAN社製）イメージングフィルター　

H-L

型式 製品名
H-7650 日立電子顕微鏡
H-9500 日立透過電子顕微鏡
HD-2700 日立走査透過電子顕微鏡
HD-2300A 日立超薄膜評価装置
HF-3300 日立電界放出形透過電子顕微鏡
HJ-1000 日立標準マイクロスケール　
HJ-1200 （Dual） 日立標準マイクロスケール　
HPC-1SW （真空デバイス社製）オスミウムコータ
HPC-30W （真空デバイス社製）オスミウムコータ
HPM010 （BAL-TEC社製）加圧凍結装置　
IM-3000 日立フラットミリング装置
INCA Crystal （OXFORD社製）結晶方位解析装置　
NCA Energy （OXFORD社製）エネルギー分散型X線分析装置　
INCA Wave （OXFORD社製）波長分散型X線分析装置
INCA DryCool （OXFORD社製）LN2フリーEDX検出器
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M-R

型式 製品名
MK-3 磁場キャンセリング装置　
Model1020 （E.A.FISCHIONE社製）プラズマクリーナ
MP-32S/MP-32M （堀場社製）カソードルミネッセンス測定装置
N-6000 日立微小デバイス特性評価装置　ナノ・プローバ
Navi Scope FIB用試料室内観察装置　
NB5000 日立集束イオン/電子ビーム加工観察装置　nanoDUE'T®
NORAN System SIX （サーモフィッシャー社製）エネルギー分散型X線分析装置
PCIシリーズ SEM用超高精細画像処理システム　
RES101 （BAL-TEC社製）ラピッドエッチング装置

S

型式 製品名
S-3400N 日立走査電子顕微鏡
S-3400NX 日立SEM+EDXインテグレーションシステム
S-3700N 日立走査電子顕微鏡
S-4300 日立電界放出形走査電子顕微鏡
S-4700 日立高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
S-4800 日立超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
S-5500 日立超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
SU-1500 日立走査電子顕微鏡
SU-70 日立超高分解能分析走査電子顕微鏡
SU6600 日立低真空分析走査電子顕微鏡
SwiftED-TM Miniscope専用 エネルギー分散型X線分析装置

T-Z

型式 製品名
TD-1000 日立走査電子顕微鏡
TM-1000 日立卓上顕微鏡　Miniscope®
VE-2030 （真空デバイス社製）TMP真空蒸着装置
VE3030CVD （真空デバイス社製）プラズマCVD装置
W-5020Td 日立SEM用冷水循環装置
W-5030 日立SEM/FIB用冷水循環装置

※「nanoDUE'T」は（株）日立ハイテクノロジーズの日本国内における登録商標です。
※「Miniscope」は（株）日立ハイテクノロジーズの日本国内における登録商標です。

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