|
ホーム
|
日立ハイテクフィールディングについて
|
ニュース&イベント
|
お問い合わせ
|
サイトマップ
English
電子顕微鏡システム
│
電子顕微鏡システムTOP
│
新着情報
│
サービスナビ
│
メンテナンス
│
環境にやさしく
│
周辺装置
│
設置環境
│
サポート体制
│
部品・消耗品
検索 by google
> 詳細な検索
周辺装置一覧
ご希望の製品名をクリックして下さい
適応機種:
項
製品名
製品説明
適応機種
1
冷水循環装置
冷却用水道が不要になります
2
給水ユニット
装置に連動し、水道水の給停水、漏水を検知します
3
IPバックアップ電源
停電時のIPをバックアップします
4
ナビスコープ
試料室内をモニタで観察。
試料・検出器・ノズル等の位置を確認しながら調整できます。
5
EDS2000マイクロアナリシスシステム
アナライザをPC環境へアップグレード
6
PCIシリーズ
SEMの画像データをデジタル保存
7
PCI画像サーバシステム
多様な画像データを一元管理
8
PC Monitor
ディスプレイを液晶モニタへ交換
画像キャプチャ可能
9
ネットワークソリューション
画像データの共有化
10
クリストマップ
TEM専用画像処理・解析ソフト
11
S-4700 New E×B
既存S-4700の二次電子検出効率向上
12
SEM PC WindowsXPアップグレード
既存OSをWindowsXPへアップグレード
13
スロースキャンCCDシステム
TEMの画像データをデジタル保存
14
H-7500アップグレード
モニタ上での像観察が可能になり、焦点合わせが自動で行えます。
15
プラズマクリーナ
電子顕微鏡用試料をホルダーごとクリーニング
16
イオンスパッタ
より均一な金属コーティングにより、質の高いSEM像を
17
サンプルポリッシャー
1台で5種類の研磨を可能
18
超薄切片試料作製用
ダイヤモンドナイフ
各種ウルトラミクロトームにて超薄切片試料を作製
19
多目的ダイヤモンドナイフ
「面出し」や「粗削り」、光学顕微鏡用試料作成
20
急速凍結装置
生物試料を連続的に急速凍結固定
ページトップへ
|
個人情報保護について
|
|
古物営業法に基づく表記:東京都公安委員会許可:第303329402802号
|
All Rights Reserved Copyright c 1995-2008. Hitachi High-Tech Fielding Corporation.