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半導体デバイス、触媒などの研究開発、解析には微細な分析が必須となっています。
これらの要求に高輝度かつ高分解能観察及び、高感度分析が可能なX線分析装置（EDX）と エネルギー損失分析装置（EELS）を装備した球面収差（Cs）補正付きSTEM HD-2700 が稼動 を始めました。皆様からのご依頼をお待ちしております。 
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