受託解析サービス

高性能電子顕微鏡等を用いた形態・表面観察、極微小部組成分析などの物性受託解析を中心に、お客様の研究開発支援サービスを行っています。

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新素材解析から不良解析、そして高温過熱観察による その場観察などの独自技術で皆様の要求にお応えします。			■ TOPICS ■ ◆TEMデータ集 に項目追加 ・ＣＢＥＤ法による 　　　　化合物半導体の極性解析 ・3次元解析による 　　　　　　立体構造評価 ・加熱その場観察による 　　　　　　反応生成物の構造解析 ・高分解能加熱その場観察による 　　　　　　構造転移の解析 ◆STEMデータ集 に項目追加 ・複合材界面の加熱その場観察と 　　　　　　　　　EDX元素分布評価
材質を選ばず、あらゆる材料に超微細で高精度な加工が 可能です。

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