製品・サービス　50音順

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あ

	アルミ地金
	アルミ圧延・押出製品
	アルミ加工品
	アルミダイカスト製品
	圧力センサー
	ICソケット
	ICカード部材/材料
	ICP発光分析装置（ICP）
	ICP質量分析装置（ICP/MS）
	RF-ID

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い

	イオンミリング装置 イオンミリング装置 E-3500 フラットミリング装置 IM-3000
	インクジェットプリンタ
	イオン電池
	イモビライザー（自動車盗難防止システム）
	医療情報ソリューション
	印字検査機（飲料・薬品ボトリングラインシステム）
	飲料ライン各種検査装置 日立光学式検査機 日立X線検査機
	位相調整変圧器
	鋳鉄
	異方性導伝テープ
	EBSP
	EELS

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う

	ウェーハ検査装置 日立ディフェクトレビューSEM RS-5000シリーズ 日立SEM式ウェーハ検査装置 I-5320/6300 日立ウェーハ表面検査装置 LS6800 日立暗視野式ウエーハ欠陥検査装置 IS3000
	ウルトラミクロトーム (LEICA社製)ウルトラミクロトーム EM UC6 (LEICA社製)クライオセクショニングシステム EM FC6 (LEICA社製)クライオセクショニングシステム FCS (LEICA社製)急速凍結 クライオプレパレーションシステム EM CPC (LEICA社製)凍結置換システム EM AFS2
	ウエットプロセスシステム (G6&7&8)　LC/LK/LY/LNシリーズ (G5)　LC/LK/LY/LNシリーズ
	薄板
	薄膜形成材

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え

	エッチング装置 UHF-ECRプラズマエッチング装置 U-8150 UHF-ECRプラズマエッチング装置 U-7000シリーズ マイクロ波ECRプラズマエッチング装置 M-7150（M-712XT） マイクロ波ECRプラズマエッチング装置 M-7000,M-600,M-500シリーズ
	エネルギー分散型X線分析装置（EDX） (OXFORD社製)エネルギー分散型X線分析装置 INCA Energy (OXFORD社製)LN2フリーEDX検出器 INCA DryCoolTM (EDAX社製)エネルギー分散型X線分析装置 Genesisシリーズ (サーモフィッシャー社製)エネルギー分散型X線分析装置 NORAN System SIX (堀場社製)エネルギー分散型X線分析装置 EMAX-ENERGY (堀場社製)＜液体窒素レス検出器＞超高感度SiX線検出器 SUPER XEROPHY GX II
	エミッション計測装置
	エンジン性能計測システム
	液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/MS)
	液体クロマトグラフ(HPLC)
	液晶プロジェクター関連製品（光学ユニット、投射レンズプリズム）
	液晶デジタル変換ボード
	AV部品（チューナー、CD/DVD用光ピック・メカニズム）
	AIR-TO-AIR方式連続真空シール装置
	ALC板（ヘーベル、グランデ、ヘーベルライト）
	FPC基板
	FSW（摩擦攪拌接合）装置
	HEV評価試験システム モータシミュレータ バッテリーシミュレータ モータダイナモ
	HIC
	LCD基板重ね合せ→GAP形成システム AE/AG6000シリーズ
	LED評価装置 LED熱抵抗測定装置 LED通電輝度測定装置
	LCDドライバー
	LOC基板
	LCD用光学樹脂
	MCM基板
	STN
	SAWフィルター
	SHED
	X線回折装置

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お

	大型ガラス基板露光装置 LE0200SD LE0100S LE9300S LE9100S LE8000シリーズ LE5565A LE4000A
	大型三次元震動破壊実験装置
	大型超電導システム

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か

	カソードルミネッセンス（CL）
	カメラモジュール組立装置
	カーボンファイバー強化樹脂
	ガスクロマトグラフ質量分析計(GC/MS)
	ガスバリア試験装置
	ガス分析計
	ガラス基板検査装置 GI7500シリーズ　 GI4830
	ガラスキャップ部品
	ガス絶縁開閉装置
	ガス遮断器（タンク形、碍子形）
	ガラエポ用基板ガラスクロス
	ガラスキャップ部品
	核磁気共鳴装置(NMR)
	乾燥装置 凍結真空乾燥装置 ES-2030
	回折格子
	簡易型軌道測定装置
	監視ソリューション
	環境調和形変圧器
	乾燥空気絶縁開閉装置
	感熱紙
	紙フェノール用BPK
	化合物半導体
	加速度センサー

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き

	キュービクル形受変電設備
	軌道測定装置
	基板用銅箔
	基板及び回路板（アルミナ、ヒタセラム、ALN）
	希土類マグネット
	希土類（Sm、Nd、Y、Tb等、酸化物及び金属）

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く

	クラスター式FPD製造装置
	クラッド製品
	空調設備
	杭（AC,SCパイル）

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け

	けん引型軌道測定装置
	原子間力顕微鏡 ワイドエリアAFM WA3200/WA3300
	検査システム
	原子吸光光度計
	景観資材
	携帯電話用部材

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こ

	コネクター
	コンデンサー
	コネクター電源
	固相前処理カラム/HPLCカラム
	高速アミノ酸分析計
	高エネルギー物理実験用超大型加速器システム
	鋼製建材（ベースパック、サッシ、長尺鉄板）
	構造用合金鋼・高合金チューブ・ステンレス鋼・ステンレスパイプ・ベアリング鋼等の特殊用途鋼
	鋼管
	合成樹脂材料（PE、PP、PS、ABS、AS、PMMA、PA、PPE、POM、PC、PBT、PET、PPS、LCP、PU、フッ素系樹脂、リサイクル樹脂材料）
	光学読取部品材料
	高純度ターゲット材料
	高純度金属粉体
	光学用耐熱精密部品/材料
	高純度シリコン
	合成石英ウェーハ
	高純度薬品
	光学薄膜製品（レンズ・プリズム・ミラー・フィルター等）
	光学結晶

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さ

	サーモスタット
	酸化亜鉛避雷器（タンク形、碍子形）
	材料試験機
	酸化物結晶
	３次元形状計測システム

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し

	システムLSI
	シリコーン樹脂
	ジャンクションコーティングレジン材料
	集束イオンビーム（FIB） 集束イオンビーム加工観察装置 FB-2100 FIBマイクロサンプリング
	集束イオン・電子ビーム加工観察装置（FIB-SEM） 集束イオン/電子ビーム加工観察装置　nanoDUE'T(R) NB5000

	新幹線総合試験車用自動測定装置
	車両シミュレーション評価装置
	周波数変換所用変圧器
	車両用変圧器
	昇降機設備
	蒸着スパッタリング用材
	自動車用半導体
	磁性部品/材料（SmFeN、ＮdFeB、プラマグ）
	CMOSセンサーモジュール
	CDR・DVD用材料（色素、クエンチャー、溶剤、スタンパ、ポリカーボネイト）
	CDRW用材料（ターゲット、スタンパ、ポリカーボネイト）

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す

	ステンレス鋼板
	スクリーン印刷機
	水分測定装置
	水質分析システム
	水銀測定装置
	水晶振動子/発振器　組立装置 マスク詰め装置 ブランク搭載機 温度特性検査装置
	水晶振動子
	水晶振動子・発振器

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せ

	セローム関連受託解析サービス
	センサー部品
	セラミックパッケージ
	生化学自動分析装置
	全有機炭素測定装置
	洗浄装置 LC4000シリーズ
	設計製造ソリューション 半導体製造業向け設計製造ソリューション 電機・自動車業界向け　設計製造ソリューション 各種業務システム向け　設計製造ソリューション 3D CADデータ軽量化　設計製造ソリューション 保守サービス業界向け　設計製造ソリューション
	静電破壊防止素子
	石英製品
	赤外線熱映像カメラ

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そ

	ソーラーモジュール
	ソーラーセル
	走査電子顕微鏡（SEM） 走査電子顕微鏡 S-3700N 走査電子顕微鏡 S-3400N SEM+EDXインテグレーションシステム S-3400NX 走査電子顕微鏡 SU-1500 走査電子顕微鏡 TD-1000
	走査電子顕微鏡（FE-SEM） 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 S-5500 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 S-4800 高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 S-4700 電界放出形走査電子顕微鏡 S-4300 超高分解能分析走査電子顕微鏡 SU-70 低真空分析走査電子顕微鏡 SU6600
	測長SEM 高分解能FEB測長装置 CG4000 設計データ応用計測システム DesignGauge
	送電用変電所用変圧器

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た

	ダイボンダ SiPボンダ(300mm 汎用ダイボンダ） DB-700 SiPマウンター（300mm LOC/BOC/COB用チップマウンター） CM-700 ハンダダイボンダ エポキシダイボンダ
	ダイオード
	卓上顕微鏡 Miniscope TM-1000
	太陽光発電システム
	TABテープ

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ち

	チップソータ
	チタン製品
	超高速液体クロマトグラフ
	超音波検査装置
	超伝導関連材料
	鋳鍛鋼製品
	駐車場設備

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つ

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て

	テレビ会議システム
	テクスチャ装置
	テーピング装置 STP-200
	ディスクアレイサブシステム
	ディスクテストシステム
	ディスク洗浄装置
	ディスク表面検査装置 NS1500シリーズ NS7000シリーズ
	デジタルオーディオ機器
	ディスペンサ
	電子顕微鏡周辺装置 3D解析ホルダー CADNavigationシステム　NASFA （Navigation System of Failure Analysis）
	電子顕微鏡試料前処理装置 イオンスパッタ E-1045 イオンスパッタ E-1010 (BAL-TEC社製)加圧凍結装置 HPM010 (BAL-TEC社製)フリーズ・レプリカ作製装置 BAF 060
	電子スピン共鳴装置(ESR)
	滴定装置
	電気・軌道測定装置
	電子部品包材（マガジン、キャリアテープ他）
	電磁鋼板
	電気・照明設備
	DNA解析システム
	ＤＶＤドライブ
	DVD用材料（接着剤、ポリカーボネイト）
	TFT
	TEG

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と

	トランスミッション試験装置
	トランジスタ
	ドライフィルム現像液自動分析計
	透過電子顕微鏡（TEM/STEM） 電界放出形透過電子顕微鏡 HF-3300 透過電子顕微鏡 H-9500 走査透過電子顕微鏡 HD-2700 超薄膜評価装置 HD-2300A 電子顕微鏡 H-7650

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な

	ナノ・プローバ 微小デバイス特性評価装置 ナノ・プローバ N-6000
	ナノフローHPLCシステム
	ナノウォッシャー
	内外装材（石材、押出成型板、金属パネル）

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に

	ニューセラミック粉材（ジルコニア、ムライト、Si3N4、ALN）
	尿自動分析装置
	二次電池組立システム

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ぬ

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ね

	熱分析装置
	燃料電池評価システム
	熱交換機

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の

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は

	ハードディスク用VCM・Head基板
	バンプ外観検査装置 ウェーハはんだバンプ外観検査装置 WB3200 ウェーハ金バンプ外観検査装置 WB3100
	パワーモジュール評価装置 パワーモジュール静特性測定装置 パワーモジュール動特性測定装置 パワーモジュール過渡熱抵抗測定装置 パワーサイクル試験装置
	パッケージ形受変電設備
	波長分散型X線分析装置（WDX） （OXFORD社製）波長分散型X線分析装置 INCA Wave （EDAX社製）平行ビーム波長分散型X線検出器　LambdaSpecシリーズ （サーモフィッシャー社製）波長分散式X線分析装置 MAXray
	発電機主回路遮断器・開閉器
	発電機主回路相分離母線
	配電用変電所用変圧器
	半導体封止材用シリカ

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ひ

	ピックアップ用光学樹脂
	非破壊検査装置
	光通信素子用ボンダー フリップチップボンダー
	表面処理鋼板
	非ハロゲン樹脂
	光プリンター関連製品（LBPユニット、ポリゴンスキャナー）
	光通信部材（パッケージ、アイソレータ、クーラー、ヒートシンク、光コネクター、受発光素子、光ファイバー等）
	PS高さ測定装置 GH7500シリーズ
	BGA基板

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ふ

	フーリエ変換赤外分光装置（FT-IR）
	プリンタ
	プリンタリボンクロス
	プリント配線板
	プラント用各種鋼板
	プロセスタイトレータ
	プラズマ洗浄装置(プラズマクリーナー) SPC-100
	プロジェクションテレビ用ブラウン管
	プレコート鋼板
	ブロードバンド 10Gb Ethernetカードアダプター
	ブルートゥースモジュール
	ファイン硝子
	フィナンシャルソリューション
	フェムト秒レーザー３次元超微細加工機
	フォトマスク用ターゲット
	分光光度計（UV-Vis）
	分光蛍光光度計（FL）
	分解輸送変圧器
	部品組付ライン設備
	封止金型
	封止材料
	粉末冶金

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へ

ヘッドテスタ

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ほ

	ポリマー電池用材料
	ボンディングワイヤー
	放射光加速器システム
	放熱フィン
	棒鋼
	封止材料
	封止金型

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ま

	マイクロプレート光度計
	マイクロ流体チップ受託作製サービス
	マウンタ ダイレクトドライブモジュラーマウンタ　GXH-1S/GXH-1JS ダイレクトドライブターレットマウンタ　TCM-X1１0/X210/X300 多機能マウンタ
	マイクロコンピュータ（4/8/16/32ビット）
	枚葉式スリミング装置 SP-1200
	膜厚計（非接触） 非接触光学式薄膜計測システム

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み

ミックスドシグナルIC標準ロジック

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む

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め

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も

	モジュール組立システム AL/AB7000シリーズ AK/AL/AB6000シリーズ 小板液晶用実装装置　AX1000
	モバイル機器
	モーター・インバーター・バッテリー試験装置
	モータープロテクタ

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や

冶工具（石英ガラス）

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ゆ

有機薬液処理装置/酸薬液処理装置 LY4000/LN4000シリーズ

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よ

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ら

	ラマン分光装置/3次元ナノ空間分光顕微鏡
	ラマン分光装置

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り

	リードフレーム材
	リモート監視システム
	リジッドフレキシブル基板
	リニアIC
	リチウム二次電池用材料
	臨床検査用分光光度計

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る

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れ

	レアメタル
	レアアース
	冷却水循環装置 冷水循環装置 W-5020Td SEM/AA用冷水循環装置 W-5030

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ろ

	ログ統合ソリューション
	ロール成形機

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わ

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を

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