＜信頼性試験＞

	高温オペレーション試験	高温高湿バイアス試験
	高温放置試験	低温放置試験
	温度サイクル試験	熱衝撃試験
	HAST試験	PCT試験

＜不良解析＞

	超音波探傷解析	X線解析
	FIB解析

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株式会社日立ハイテクノロジーズ　電子材料営業本部　電子デバイス材料部　1課 〒105-8717　東京都港区西新橋1-24-14 TEL:03-3504-6157　FAX:03-3504-5198/7830 E-Mail:teg@nst.hitachi-hitec.com 製品に関するお問合せは、上記、あるいはこちらまで。 会員登録頂けますと詳細仕様をご覧頂けます。 ※お問い合わせ頂く前に、当社「個人情報保護について」をお読みいただき、 　記載されている内容に関してご同意いただく必要があります。 　当社「個人情報保護について」をよくお読みいただき、 　ご同意いただける場合のみ、お問い合わせください。