依頼分析（電子顕微鏡）

透過電子顕微鏡や走査電子顕微鏡など、ナノレベルでの材料観察を可能にする最新装置を用いて材料の分析を行う依頼分析・立会分析をお受けしております。

高分解能観察対応のクライオステージを導入しました。 従来では観察できなかった高倍率での観察が可能になりました。各種含水・液状試料の高倍率組織観察などにお役立てください。

詳細はこちら（（株）日立ハイテクマニファクチャ＆サービスのサイト）

ご依頼分析形態  分析装置の紹介  お問い合わせ先

ご依頼分析形態

依頼分析 立会い分析（1日7時間、または半日4時間）

分析装置の紹介

TEM 200kV FE-Cs STEM（球面収差補正機能付き） Li電池分析、各種触媒分析など HD-2700+EDX+EELS （球面収差補正機能で高分解能、高感度分析） 200kV FE-STEM 触媒、材料分析、加熱観察 HD-2000+EDX+EELS （高輝度FEGによる高分解能、高感度分析） 200kV FE-TEM 高分解能観察、加熱観察 HF-2000+EDX+EELS （高分解能観察と微小領域電子線回折） 300kV TEM 高分解能格子像観察 H-90000UHR （300kVによる超高分解能観察） 300kV TEM（ガス導入機能付き） ガス導入観察、加熱観察 H-9500 （300kVによる超高分解能とガス導入観察）

SEM UHR FE-SEM 超高分解能観察、元素分析 S-5200+EDX （0.5nmの高分解能を） 高分解能観察、元素分析 S-4800+EDX （大型試料室で高分解能観察） 高分解能観察、EBSP分析 SU-70+EBSP+EDX （高分解能観察と結晶方位解析） SEM 大型試料観察 S-3600+EDX （最大254mm径試料の非破壊観察）

試料作製 FIB 薄膜加工、端面加工 FB-2100、FB-2000A イオンミリング 薄膜加工、ダメージ層除去 GATAN PIPS 断面イオンミリング 断面加工（広領域断面の作製） E-3500

お問い合わせ先

日立ハイテクノロジーズ各営業担当もしくは下記窓口までお問い合わせください。 （株）日立ハイテクマニファクチャ＆サービス　受託解析センタ 〒312-0033 茨城県ひたちなか市市毛1040番地 TEL：029-354-5745 / FAX：029-354-5765  （株）日立ハイテクマニファクチャ＆サービス のページへ

お客さまの分析をサポートする会員制サイト「S.I.navi（エスアイナビ）」 アプリケーション / カタログ / 部品・消耗品 / 技術解説などがご覧になれます。

同じカテゴリの製品を見る 他のカテゴリの製品を見る 現在のカタログ請求を見る