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アプリケーションデータ:透過電子顕微鏡(TEM)



日立ハイテクが長年蓄積した走査電子顕微鏡に関する測定手法、測定例の一部をご紹介いたします。
以下のリストのデータをはじめとした、さまざまなアプリケーションデータは、弊社会員制情報検索サイト「S.I.navi(エスアイナビ)」でご提供しています。
ユーザー限定 :「S.I.navi」内の日立電子顕微鏡ユーザー限定サイト「Semevolution(セメボリューション)」でご提供しています。「S.I.navi」サイトで、ご使用製品に日立電子顕微鏡をご登録いただくと、「Semevolution」の閲覧が可能になります。
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透過電子顕微鏡(TEM)
Data No. タイトル
TEM142  HF-3300を用いたPt/C触媒試料のSEM/STEM同時その場観察 New!
使用装置:  日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-3300
キーワード: 透過電子顕微鏡、SEM、その場観察、触媒、燃料電池
TEM140  HT7700用 走査透過像観察装置(STEM)の材料分野への応用(1)
使用装置:  日立透過電子顕微鏡 HT7700
キーワード: 走査透過像観察装置(STEM)、色収差、厚い試料、明視野(BF)像、暗視野(DF)像、高角散乱電子、散乱コントラスト、回折コントラスト、組成コントラスト、金属触媒含有カーボンナノチューブ、トナー粒子、SUS鋼板、分布状態、結晶方位、転位網、格子歪
TEM139  HT7700透過電子顕微鏡の材料分野への応用(1)
使用装置:  日立透過電子顕微鏡 HT7700
キーワード: 透過電子顕微鏡、高分解能観察モード、デジタルカメラ、カーボンナノホーン、多層カーボンナノチューブ、MWNT
TEM137
ユーザー限定
 腎臓疾患病態解析へのTEM応用
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7650
キーワード: 透過電子顕微鏡、病理組織、バイオプシー、針生検、腎臓、腎臓疾患、膜性腎症、ループス腎炎、基底膜、メサンギウム、つなぎ写真
TEM136  白金担持触媒の高分解能三次元TEM解析
使用装置:  日立透過電子顕微鏡 H-9500
キーワード: TEM、3D解析ホルダー、白金担持触媒、高分解能三次元TEM観察、電子線トモグラフィー、SIR、全方位回転
TEM135  ナノ電子線回折法を用いた半導体デバイスの歪み計測
使用装置:  日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-3300
キーワード: 電界放出形透過電子顕微鏡、ナノ電子線回折法、格子歪み、MOS
TEM133  位置分解型EELS法を用いた積層膜の高精度分析
使用装置:  日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-3300
キーワード: 透過電子顕微鏡、冷陰極電界放出形電子銃、高エネルギー分解能、位置分解型EELS、積層膜、エネルギーシフト
TEM132  SiO2上Sn 酸化過程の高分解能観察およびEELS分析
 
使用装置:  日立透過電子顕微鏡 H-9500
キーワード: ガス導入機構付き試料加熱ホルダ、TEM、Snナノ粒子、酸化過程、その場観察、高分解能観察、EELS分析
TEM131
ユーザー限定
 電子線トモグラフィーのバイオ応用(1)
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7650
キーワード: 透過電子顕微鏡、トモグラフィー、三次元構造解析、フリーズエッチングレプリカ、NRK細胞、トポグラフィーに基づく再構成法(Topography Based Reconstruction : TBR)、セグメンテーション
TEM123
ユーザー限定
 透過電子顕微鏡によるアスベスト分析
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7650
キーワード: 透過電子顕微鏡、エネルギー分散型X線分析装置、アスベスト、クリソタイル、クロシドライト、アンソフィライト、アモサイト、高分解能像観察、元素分析、制限視野電子線回折、結晶構造
TEM122
ユーザー限定
 H-7650におけるTEMトモグラフィー用3D再構成システムとその応用(3)
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7650
キーワード: 透過電子顕微鏡、白金クラスター、カーボンナノ粒子、トモグラフィー、 トポグラフィーに基づく再構成法(Topography Based Reconstruction : TBR)、セグメンテーション
TEM121
ユーザー限定
 H-7650におけるTEMトモグラフィー用3D再構成システムとその応用(2)
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7650
キーワード: 透過電子顕微鏡、トモグラフィー、重み付け逆投影法 (Weighted Back Projection :WBP)、トポグラフィー計測に基づく再構成法(Topography Based Reconstruction :TBR)
TEM120
ユーザー限定
 H-7650透過電子顕微鏡の材料分野への応用(1)カーボンナノホ一ンの高解像度観察
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7650
キーワード: 透過電子顕微鏡、高解像度観察モード、デジタルカメラ、カーボンナノホーン、単層カーボンナノチューブ
TEM119
ユーザー限定
 透過電子顕微鏡H-7650の機能とその応用(2)
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7650
キーワード: 透過電子顕微鏡、高コントラストモード、スロースキャンCCDカメラ、ヒト腎臓、無染色切片
TEM118
ユーザー限定
 電子線トモグラフィー用3D-TEMシステムとその応用(1)
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7650
キーワード: 電子線トモグラフィー、透過電子顕微鏡、ユーセントリックサイドエントリーステージ、試料傾斜、三次元再構成、WBP;Weighted Back Projection、重み付け逆投影法、SIR; Simultaneous Iterative Reconstruction、代数的反復法、DSM;Dynamic Shell Modeling、 ダイナミックシェルモデリング法、三次元表示、ウシ小脳、急速凍結・ディープエッチレプリカ
TEM117  H-9500透過電子顕微鏡の機能と高分解能観察例
使用装置:  日立透過電子顕微鏡 H-9500
キーワード: TEM像、デジタル画像、高分解能撮影、PC制御
TEM116
ユーザー限定
 新型透過電子顕微鏡H-7650の機能とその応用(1)
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7650
キーワード: 透過電子顕微鏡、高コントラスト(HC)モード、高分解能(HR)モード、スロースキャンCCDカメラ、デジタルカメラ、デジタルオートモンタージュ機能、ヒト腎臓、ラット小脳、ウニ型成長カーボンナノチューブ
TEM115
ユーザー限定
 H-7600によるカーボンナノチューブの観察
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7600
キーワード: 透過電子顕微鏡、スロースキャンCCDカメラ、試料傾斜、金属触媒、ウニ型カーボンナノチューブ、ハイウェイ-ジャンクション型カーボンナノチューブ
TEM114
ユーザー限定
 H-7600の自動試料傾斜像記録機能によるレプリカ試料の立体構造観察
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7600
キーワード: 透過電子顕微鏡、自動試料傾斜像記録機能、コンピュータトモグラフィー(CT)法、急速凍結レプリカ法、シナプス、シナプス小胞
TEM113
ユーザー限定
 H-7600の自動試料傾斜像記録機能による機能タンパク質の立体構造観察
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7600
キーワード: 透過電子顕微鏡、自動試料傾斜像記録機能、急速凍結ディープエッチレプリカ法、ウシ小脳、イノシトール三リン酸レセプター
TEM112
ユーザー限定
 H-7600による生物試料のデジタルTEM像観察
 
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7600
TEM111
ユーザー限定
 H-7600を用いた高角度試料傾斜によるミオシン分子の三次元構造観察
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7600
キーワード: 透過電子顕微鏡、電子線コンピュータトモグラフィー、ミオシン分子、試料傾斜
TEM110
ユーザー限定
 H-7600の機能とその応用(3)−医学生物分野における画像データベースの活用−
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7600
キーワード: 透過電子顕微鏡、デジタル画像、加圧凍結法、免疫電顕法
TEM109
ユーザー限定
 カーボンナノチューブの高温高分解能観察およびEELS分析
使用装置: 日立電界放出形分析電子顕微鏡 HF-2200
キーワード: カーボンナノチューブ、冷陰極電界放出形透過電子顕微鏡、ダイレクトヒーティングホルダ、多層ナノチューブ(MWNTs:multi-walled carbon nanotubes)、単層ナノチューブ(SWNT:Single walled nano tube)、グラフェン、EELS(電子線エネルギー損失分光、EELS:Electron Energy Loss Spectroscopy)分析
TEM108
ユーザー限定
 H-7600の機能とその応用(2)−高品位デジタルTEM画像の病理分野への応用−
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7600
キーワード: 透過電子顕微鏡、デジタル画像、オートフォーカス機能、腎臓、胚芽性腺肉腫、ウイルムス腫瘍、ループス腎炎、アミロイドーシス
TEM107
ユーザー限定
 カーボンナノチューブの室温および高温での高分解能観察
使用装置: 日立電界放出形分析電子顕微鏡 HF-2200
キーワード: カーボンナオチューブ、冷陰極電界放出形透過電子顕微鏡、ダイレクトヒーティングホルダー、グラファイトシート、多層ナノチューブ(multiwalled carbon nanotubes;MWNTs)
TEM106
ユーザー限定
 H-7600における自動粒子検索システムとその応用
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7600
キーワード: 透過電子顕微鏡、自動粒子検索システム、オートフォーカス機能、培養細胞、アデノウイルス
TEM105
ユーザー限定
 金属材料析出過程の高温その場観察とEELS分析
使用装置: 日立電界放出形分析電子顕微鏡 HF-2200
キーワード: 加熱ホルダー、その場観察、分析電子顕微鏡、EELS、金属、析出物
TEM104
ユーザー限定
 FIB/TEMシステムによる金属中の微小析出物断面構造解析
使用装置: 日立電界放出形分析電子顕微鏡 HF-2200
日立集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード: 集束イオンビーム、高加速二次電子像、STEM像、組成分布像
TEM103
ユーザー限定
 H-7600の機能とその応用(1)−オートフォーカス機能−
使用装置: 日立電子顕微鏡 H-7600
キーワード: 透過電子顕微鏡、オートフォーカス機能、位相限定相関法、アデノウイルス、ヒト膵臓
TEM102
ユーザー限定
 H-7500のトータルシステム化とその応用
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード: 透過電子顕微鏡、EDX装置、STEM像、元素マッピング、ヒト肺、ヒト皮膚、ラット腎臓
TEM100
ユーザー限定
 H-7500による試料自動検索システムとその応用
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード: 透過電子顕微鏡、試料自動検索システム、ウイルス、ネガティブ染色
TEM099
ユーザー限定
 HD-2000で観る64M-DRAM(薄膜加工からナノ領域の分析まで)
使用装置: 日立超薄膜評価装置 HD-2000
日立集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード: 高加速二次電子像、Zコントラスト像、フェーズコントラスト像、Siデバイス、高感度EDX分析、測長、画像処理
TEM098
ユーザー限定
 イメージングEELS法による状態変化の動的観察
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 電界放出電子顕微鏡、GIF、EELS、沿製造観察、動的観察、加熱ホールダ、状態変化観察
TEM097
ユーザー限定
 FIB/TEMシステムによる電子デバイス微小欠陥解析
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
日立集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード: STEM像、高加速SEM像、疑似欠陥、ドリル穴先端部、イオンダメージ層
TEM096
ユーザー限定
 H-7500による粉体試料のEDX分析
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード: 透過電子顕微鏡、X線分析、粉体試料
TEM095
ユーザー限定
 ヒト歯牙エナメル質のFIBによる薄膜化とその断面TEM観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-9000NAR
日立集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード: 集束イオンビーム、断面TEM試料作製、エナメル質ハイドロキシアパタイト
TEM094
ユーザー限定
 Bio-TEM H-7500によるウィルスの観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード: 透過電子顕微鏡、インフルエンザウイルス、アデノウイルス、ファージ、SRSV小型球形ウイルス、ネガティブ染色法
TEM093
ユーザー限定
 HF-2000+GIFによるSiデバイスのONO膜観察
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 電界放出電子顕微鏡、GIF、EELS、組成像観察、半導体デバイス、集束イオンビーム
TEM092
ユーザー限定
 新型Bio-TEM H-7500の機能とその応用(2)−3個取り試料ホルダーとマイクロトレース機能−
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード: 透過電子顕微鏡、3個取り試料ホルダー、マイクロトレース機能、試料位置記憶機能
TEM091
ユーザー限定
 厚い半導体試料のエネルギーフィルター像観察
使用装置: 日立電子顕微鏡EF-1000
キーワード: エネルギーフィルタ像、16M-DRAM、集束イオンビーム加工、プラズモンロス電子
TEM090
ユーザー限定
 FIB加工と高加速SEM像観察によるデバイスの断面TEM試料作製とその観察
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
日立集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000A
キーワード: 集束イオンビーム、高加速二次電子像、1GDRAM、断面TEM試料作製、SIM(Scanning Ion Microscope)像、コンタクトホール、ステレオ観察、メモリーセル、キャパシタ、ビットライン、COB(capacitor over bitline)、ワードライン、層間絶縁膜
TEM089
ユーザー限定
 HF-2000+GIFによるナノ領域軽元素組成像観察
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 電界放出電子顕微鏡、EELS、組成像観察、セラミックス
TEM088
ユーザー限定
 FIBによる16M-DRAMのTEM試料作製とその高電圧二次電子像観察
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
日立集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000
キーワード: 高電圧二次電子像、16M-DRAM、ラインプロファイル
TEM087
ユーザー限定
 新型Bio-TEM H-7500の機能とその応用(1)
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7500
キーワード: 透過電子顕微鏡、スティグモニター機能、オートモンタージュ機能、つなぎ写真、極低倍観察
TEM086
ユーザー限定
 TEM用高感度TVシステム(UTK-2000)の応用
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-9000NAR
キーワード: ゼオライト、結晶構造解析、LOW DOSE(ロー・ドース)撮影法、faujasite、構造像、FFT(フーリエ変換)像
TEM083
ユーザー限定
 光磁気ディスクのFIBによる薄膜化とその断面観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-9000NAR
日立集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000
キーワード: 集束イオンビーム、断面TEM試料作製、エッチングレート、複合材料、光磁気ディスク
TEM082
ユーザー限定
 ESI法の生物試料への応用 厚切り切片のゼロロス像観察
使用装置: 日立電子顕微鏡EF-1000
キーワード: 透過電子顕微鏡、EF-1000、厚切り切片、生物試料、ゼロロス像
TEM081
ユーザー限定
 クライオトランスファー法による植物ウィルスの極低温観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード: 透過電子顕微鏡、植物ウイルス、クライオトランスファー法、氷包埋法、ロードース
TEM080
ユーザー限定
 HF-2000によるナノエリア組成像観察
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 電界放出電子顕微鏡、EDX、デジタルマッピング、STEM
TEM079
ユーザー限定
 FE-TEMによるFIB加工金属薄膜の組成像観察
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
日立集束イオンビーム加工観察装置 FB-2000
キーワード: 電界放出電子顕微鏡、EDX、デジタルマッピング、STEM、FIB
TEM078
ユーザー限定
 リアルタイムフーリエ変換装置を用いたポリマーアロイ構造解析
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード: リアルタイムフーリエ変換、ポリマーアロイ、透過電子顕微鏡
TEM077
ユーザー限定
 ESI法の生物試料への応用 厚切り切片のゼロロス像観察
使用装置: フィルターTEM
キーワード: 透過電子顕微鏡、フィルターTEM、厚切り切片、生物試料、ゼロロス像
TEM076
ユーザー限定
 H-7100透過電子顕微鏡によるつなぎ写真の作製
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード: 透過電子顕微鏡、児童連続視野撮影装置、つなぎ写真、IMPRINT MOSAICソフトウェア
TEM075
ユーザー限定
 TEMによるSi-W-Oウィスカーの合成
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-9000NAR
キーワード: 透過電子顕微鏡、ウィスカー、熱処理、試料予備排気室、アモルファス化、原子像
TEM074
ユーザー限定
 透過電子顕微鏡の楽しみ−日本電子顕微鏡学会 写真コンクールより−
TEM073
ユーザー限定
 スロースキャンCCD-TVシステムによる有機材料の結晶構造確認
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード: スロースキャンCCD、オンラインシステム、画像処理、シミュレーション
TEM072
ユーザー限定
 HF-2000による組成像観察とその応用
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 電界放出電子顕微鏡、STEM、HAADF、EDXマッピング、ライン分析、アニュラー検出器
TEM071
ユーザー限定
 H-7100透過電子顕微鏡による高分子材料のSTEM観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード: 透過電子顕微鏡、走査透過像観察装置、高分子材料、無染色凍結切片、走査透過像(STEM像)
TEM070
ユーザー限定
 H-7100透過電子顕微鏡によるつなぎ写真の撮影
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード: 透過電子顕微鏡、自動連続視野撮影装置、つなぎ写真、オートビームクッキング機能、自動サーチ機能、試料位置メモリー機能
TEM069
ユーザー限定
 スロースキャンCCD-TVシステムによるバクテリアの観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード: スロースキャンCCD、オンラインシステム、画像処理
TEM068
ユーザー限定
 H-9000NARによる高温高分解能観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-9000NAR
キーワード: 動的観察、結晶格子像、電子線回折像、EDX分析、融点、高分解能観察、グラファイト
TEM067
ユーザー限定
 HF-2000によるローレンツ顕微鏡法とその応用
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 磁区観察、ローレンツ顕微鏡、冷陰極電界放出型電子銃、コバルト、分析電子顕微鏡
TEM066
ユーザー限定
 EELSによる試料の厚さ測定
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 冷陰極電界放出電子銃、EELS、試料厚さ測定
TEM065
ユーザー限定
 FIBによるTEM断面試料作製とその分析
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-9000NAR
日立集束イオンビーム加工観察装置 FB-4080
キーワード: 集束イオンビーム、断面TEM観察、イオンシニング法、走査イオン顕微鏡像、ダイシングソー、粗加工、中加工、仕上げ加工、分析電子顕微鏡、FIB、SIM、TEM、EDX
TEM064
ユーザー限定
 高分子材料の引っ張りその場観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード: 高分子材料、引っ張り、Alメッシュ、クレーズ、無染色・凍結
TEM063
ユーザー限定
 HF-2000によるマッピングとライン分析の応用
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 電界放出電子顕微鏡、STEM、EDXマッピング、ライン分析、アニュラー検出器、HAADF
TEM062
ユーザー限定
 乳製品の透過電子顕微鏡観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード: 透過電子顕微鏡、乳製品、樹脂包埋超薄切片、凍結割断レプリカ
TEM061
ユーザー限定
 大豆とその加工品の電子顕微鏡観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード: 透過型電子顕微鏡、大豆とその加工品、固定・包埋、超薄切片
TEM060
ユーザー限定
 Si自然酸化膜の極微小部EELS分析
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 電界放出電子顕微鏡、EELS、自然酸化膜、極微小部分析
TEM059
ユーザー限定
 スロースキャンCCD-TVシステムによるオートチューニング
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-8100
キーワード: スロースキャンCCD、オンラインシステム、オートチューニング、オートスティグマ、オートフォーカス
TEM058
ユーザー限定
 H-7100透過電子顕微鏡による植物細菌およびウイルスの観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード: ネガティブ染色法、植物細菌、植物ウイルス、透過電子顕微鏡
TEM057
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 パラフィン結晶の低温高分解能観察
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-8100
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 スロースキャンCCD-TVシステムの応用 その1:性能の確認と材料への応用
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-9000NAR
キーワード: Slow scan CCD、線分解能、画素、感度、スルーフォーカス、オンライン、フーリエ変換、フィルタリング
TEM055
ユーザー限定
 ステップスポットスキャンTEM(SSSTEM)法とその応用
使用装置: 日立透過電子顕微鏡 H-7100
キーワード: 透過形電子顕微鏡、ステップスポットスキャンTEM法(SSSTEM法)、試料傾斜、自動焦点補正機能(ダイナミックフォーカス)、ロードース照射法
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ユーザー限定
 HF-2000形によるEDX分析の空間分解能
使用装置: 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-2000
キーワード: 電界放出電子顕微鏡、析出物、極微小部分析、EDX

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