日立ハイテクトップページへ 分析装置・臨床検査装置・電子顕微鏡

ヘッダをスキップ 日立ハイテクトップページへ分析装置・臨床検査装置・電子顕微鏡 日立ハイテクトップページへ日立ハイテクグローバルサイトへ
日立製作所トップページへ
  |  ホーム  |    製品情報  |  アプリケーション  |  テクニカルサポート  |  展示会・セミナー  |  お問い合わせ  |グローバルナビゲーョンここまで

 会員制サービス   拠点紹介    サイトマップ   English 音声読み上げ・文字拡大 音声読み上げ・文字拡大  

ここからブレッド・クラム ホーム > 製品情報 > 予算申請用/研究分野別カタログ > 解析装置総覧

解析装置総覧(Product Guide 2013)


解析装置総覧 日立ハイテクの電子顕微鏡関連製品の特長や概算価格を紹介しています。
機器の選定や予算化の手引きとして、ご活用いただけます。
ご要望のお客さまは是非お問い合わせください。

分析装置製品は「分析装置ダイジェストカタログ」にてご紹介しています。
 分析装置ダイジェストカタログ

TEM/STEM
FIB-SEM/FIB
FE-SEM
SEM/イオンミリング
ナノ・プロ−バ®/nanoEBAC®/CAD-Navi
Miniscope®
EDX
Thermo Scientific製品
GATAN製品
ライカマイクロシステムズ製品
試料前処理装置(真空デバイス製品)
試料前処理装置(真空デバイス製品/その他)
電子顕微鏡周辺
受託解析サービス(TOF-SIMS)
XRD
堀場製品
パークシステムズ(走査プローブ顕微鏡)
その他解析装置
東京ソリューションラボのご案内
日立SEMユーザー様限定Semevolution®のご案内
ファイナンシャルソリューションサービス

 
 お客さまの分析をサポートする会員制サイト「S.I.navi(エスアイナビ)」
アプリケーション / カタログ / 部品・消耗品 / 技術解説などがご覧になれます。
 

同じカテゴリの製品を見る 他のカテゴリの製品を見る 現在のカタログ請求を見る
ページトップへ
検索 by google

 > 詳細な検索
分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL他)
ここから1つ下の階層
原子吸光分析装置(AA)

発光分光分析装置(ICP)

液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計他)
ここから1つ下の階層
臨床検査用装置
ここから1つ下の階層
質量分析装置(LC-MS、GC-MS他)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM)
ここから1つ下の階層
電子顕微鏡周辺装置

電磁気分析装置(XRF、膜厚測定装置、NMR他)

熱分析装置・粘弾性装置

電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定他)

その他分析装置(ガスバリア試験装置他)
ここから1つ下の階層
予算申請用/研究分野別カタログ
ここから1つ下の階層
予算申請用カタログ

研究分野別カタログ

  |  サイトの利用条件  |  個人情報保護について  |
株式会社日立ハイテクノロジーズトップページへ
All Rights Reserved Copyright (C)  2001, 2014. Hitachi High-Technologies Corporation.
株式会社日立ハイテクノロジーズトップページへ
All Rights Reserved Copyright (C)  2001, 2014. Hitachi High-Technologies Corporation.