BRUKER 2次元PSPC搭載X線回折装置 D8 DISCOVER with GADDS

2次元検出器を最大限活用することにより、迅速な測定と試料の結晶状態の直感的な把握を可能とし、一般的な粉末X線回折、集合組織、残留応力、そして微小部測定や小角散乱などの多彩なニーズに対応することができます。 価格： お問い合わせください

特長

特長

・ UBC：Universal Beam Concept 2次元検出器を搭載したことにより今まで他のシステムではできなかった測定や解析ができるユニークなX線回折システムであり、2次元データ処理の強力なソフトウェアとのカップリングにより、最先端のX線分析システムの1つとして提供しています。 ・ 2次元PSPC Hi-STAR 2次元検出器にはマルチワイヤ2次元PSPC Hi-STARを採用。従来の2次元検出器に比べS/Nが良く、微弱なX線を高感度に検出できるので、弱い反射が多い粉末X線回折の測定に非常に有効です。 ・ 結晶状態を直感的に把握 粉末X線回折測定を2次元検出器で行うと、試料から発生する回折パターンがデバイリングとして検出できます。 このデバイリングの形状から試料の結晶状態（ランダムな多結晶、集合組織・選択配向、粗大粒子、単結晶 etc.）を直感的に把握できます。 ・ 安定したデータ収集 測定した2次元画像を扇形積分（規格化）して1次元パターンにすることにより、集合組織・粗大粒子の有無に依存せず、ピークを逃すことなく検出して、安定したデータの収集が可能です。 ・ 微量試料・微小部測定 測定領域が微小になるほど回折に寄与する結晶子の数は少なくなり、回折強度が弱くなるとともにデバイリングが不均一になってしまいます。 D8 DISCOVER with GADDSでは2次元に広がる回折線全体を同時に検出できるため、微量試料や微小部の測定時間を大幅に短縮します。 ・ 迅速集合組織解析 試料に集合組織があるとデバイリングの一部が欠けている様子が観測できるので、集合組織の存在が直感的に確認できます。 また、この2次元データには広範囲のc軸の情報が含まれているため、試料の動作が最小限で済むことになり、驚くほど短時間での測定が可能になります。 またピークだけでなくバックグラウンドも同時に検出できるため高精度な分析が可能になります。 ・ フルデバイリングフィッティング （新残留応力解析：2D法） 試料が無歪みのときは真円であるデバイリングは、残留応力があると応力方向や強さに依存した歪みが生じます。 2D法は、このデバイリング全体の歪みから全応力成分を算出する新しい応力測定・解析法です。 高感度の2次元PSPCによって点ではなくデバイリング全体を測定できるので、従来の装置では測定不可能であった回折強度の弱い試料や粗大粒試料、強く配向した試料および3軸応力状態の試料でも、迅速に精度良く求めることができます。 ・ 簡易小角散乱 高分子、油脂、生体膜、液晶、蛋白質などの長周期構造および粒子状構造を反映した、ダイレクトビーム近傍の小角領域に現れる散乱X線も2次元で迅速に測定できます。 ・ Super Speed Solution X線源に回転対陰極式の強力X線源 Turbo X-ray Source搭載することにより、微小領域を迅速に測定できるようになりました。

＊価格・外観写真は、製品の仕様や構成により異なります。 ＊価格には、消費税額等は含まれておりません。

会員制情報検索サイト「S.I.navi」 アプリケーションデータ / メンテナンス / 部品 / 技術解説などがご覧になれます。

同じカテゴリの製品を見る 他のカテゴリの製品を見る 現在のカタログ請求を見る