電子顕微鏡・FIBセミナーのご案内

日立表面解析基礎セミナー 2012（熊本）
走査電子顕微鏡（SEM)および関連装置の基礎や最新アプリケーションを中心としたセミナーを開催いたします。奮ってご参加賜りますようお願い申し上げます。 下記でも同一内容で開催いたします。  山口会場［3月8日（木）］
開催日	2012年03月09日（金）
開催時間	13:00〜16:45（受付開始 12:30〜）
開催地	熊本県
会場	くまもと森都心プラザ　5階　会議室AB
所在地・交通案内	熊本県熊本市春日1-14-1  地図・交通案内
参加費	無料
定員	50名 原則として、先着順とさせていただきます。
お申し込み	受付は終了いたしました。 多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
問い合わせ先	（株）日立ハイテクノロジーズ 九州支店　科学システム課　担当/松田、竹尾 TEL:092-778-3005

時間	テーマ/内容
12:30〜	受付開始
13:00〜13:05	開会のご挨拶
13:05〜14:00	SEM操作の基礎と最新アプリケーションのご紹介 株式会社日立ハイテクノロジーズ
14:00〜14:40	"観察から元素分析まで" 卓上顕微鏡Miniscope TM3000のご紹介 （実機展示あり） 株式会社日立ハイテクノロジーズ  日立卓上顕微鏡 Miniscope® TM3000
14:40〜15:00	コーヒーブレーク
15:00〜15:45	EDXの原理と分析の基礎 アメテック株式会社　エダックス事業部
15:45〜16:15	イオンミリング装置のご紹介 株式会社日立ハイテクノロジーズ  日立イオンミリング装置 IM4000
16:15〜16:40	パークシステムズ社製 原子間力顕微鏡のご紹介 パーク・システムズ・ジャパン株式会社  研究用原子間力顕微鏡（AFM）ラインアップ
16:40〜16:45	閉会のご挨拶

＊	演題、講演時間などにつきましては、予告なく変更することがあります。あらかじめご了承ください。