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展示会のご案内




2007 分析展
分析展の様子
ますます重要度が高まる分析分野。今回も "最先端を、最前線へ。" をテーマに分析の最前線を強力にサポートすることを目指し、日立ハイテクノロジーズは機器・システムから受託解析サービスまで最新の分析ツールを一同に出展しました。日立ハイテクノロジーズ ブースへご来場いただきありがとうございました。
新技術説明会やブース内セミナーでご説明した内容はS.I.naviに掲載しています。新製品・新技術・測定のコツ・ノウハウなどをご紹介しておりますので、是非ご活用ください。
 会員制情報検索サイト「S.I.navi」
 
会期 2007年08月29日(水)〜31日(金)
開催時間 10:00〜17:00
開催地 千葉県
会場

幕張メッセ

所在地・交通案内 千葉県千葉市美浜区中瀬2-1
 地図・交通案内
 出展製品
 新技術説明会 お申し込み受付は終了いたしました。
 ブース内セミナーお申し込み受付は終了いたしました。
主催者 社団法人日本分析機器工業会
出展製品 ■質量分析計
 日立液体クロマトグラフ質量分析計 NanoFrontier LD

■クロマトグラフ
 日立超高速液体クロマトグラフLaChromUltra
  ・UVイソクラポンプシステム New!
  ・FLシステム New!
  ・DADシステム New!
 日立ナノフローHPLCシステム NanoFrontier nLC
 日立高速液体クロマトグラフ LaChrom Elite
  ・高感度DADシステム
   糖分析システム
   GPCシステム
   イオンクロマトグラフシステム
   GPCクリーンアップシステム New!
 日立高速アミノ酸分析計
  日立ガスクロマトグラフ G-6000

■カラム・前処理
  日立HPLC用分析カラム
 日立超高速クロマトグラフ用分析カラム
 日立前処理カラム ノビアス(NOBIAS)
  ・日立固相充填カラム
  ・日立前処理カラム
  日立純正バイアル

■受託サービス
 マイクロ流体チップ受託作製サービス
 バイオ受託解析サービス
 物性受託解析サービス

■原子吸光光度計
 日立偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-2010シリーズ New!

■分光・蛍光光度計
 日立レシオビーム分光光度計 U-1900
 日立ダブルビーム分光光度計 U-2900
 日立分光光度計 U-4100
 日立分光蛍光光度計 F-7000
  フーリエ変換赤外分光装置Nicolet 380
 ICP発光分光分析装置 iCAP6000シリーズ

■電子顕微鏡
 日立走査電子顕微鏡 SU-1500 New!
  ブルカーAXS製SDDタイプEDX Quantax200 New!
 日立フラットミリング装置 IM-3000 New!
 日立卓上顕微鏡 TM-1000 Miniscope + EDX New!
 日立走査透過電子顕微鏡 HD-2700 <パネル展示>
 日立電子顕微鏡 H-7650 <パネル展示>
 日立電界放出形透過電子顕微鏡 HF-3300 <パネル展示>
  SEMラインアップ <パネル展示>

■ガスバリア
  MOCON新形水蒸気透過率測定装置 New!

■マイクロプレートリーダ
 コロナグレーティングマルチマイクロプレートリーダ SH-8100Lab New!
 コロナ吸光グレーティングマイクロプレートリーダ SH-1000Lab New!
 コロナマルチマイクロプレートリーダMTP-800シリーズ New!

■滴定/水分/水銀分析
 平沼自動滴定装置 COM-2500
 平沼自動滴定装置 COM-1600シリーズ
 平沼塩分・酸度計 umeCOM
 平沼微量水分測定装置 AQ-300
 平沼微量水分測定装置 AQ-2100シリーズ
 平沼自動水分測定装置システム AQS/AQL-2320 New!
 平沼自動COD測定装置 COD-1200 <参考出展>
  平沼水銀測定装置 HG-320J
 平沼全有機炭素測定装置 TOC-2000シリーズ
 平沼殺菌液・洗浄液濃度カウンタシリーズ

■データ管理システム
 日立検査データ管理システム(LabDAMS)


新技術説明会
日立ハイテクの新製品や、最新技術をご紹介する説明会を開催いたしました。
会場 [A]アパホテル&リゾート東京ベイ幕張
[N]ホテルニューオータニ幕張 (中宴会場・大宴会場)
受講料 お申し込み受付は終了いたしました。
8/29
(水)
時間 会場 テーマ 定員
15:10〜15:35 A-5 最新の日立汎用SEMのご紹介
従来の汎用機能はそのままに、簡易操作機能を充実し、さらに省スペース化した最新の汎用SEMについて紹介します。
100名
15:10〜15:35 A-3 最新形自動加熱気化水分測定システムで省力化を推進!
固体・粉体試料、潤滑油・塗料などを連続・効率的に測定を行なうためのさまざまな機能を備えた自動水分測定システムを紹介します。
100名
15:55〜16:20 N-2 分光光度計を使いこなそう!溶液測定の気がつきにくい落とし穴
誰もが馴染みのある分光光度計。しかし見落としがちなノウハウもたくさんあります。すぐに試したくなるような身近なアプリケーションとともにそれらを紹介します。
200名
8/30
(木)
時間 会場 テーマ 定員
10:30〜10:55 A-5 TEMトモグラフィーの最新応用
H-7650形TEMではトポグラフィー計測に基づく再構成法を導入し、ミッシングゾーンの影響を抑えることに成功しました。本技術の概要と応用を紹介します。
100名
13:45〜14:35 A-6 HPLCを"さらに"上手に使いこなすコツ
HPLCは使い方のちょっとしたコツでデータの信頼性は著しく向上します。それらの多くは前処理・測定・再計算・装置管理など、日常の場面に潜んでいます。ここでは実際のデータを交えながら、見落としやすいけれども信頼性向上につながるコツを紹介します。
200名
15:50〜16:15 A-4 日立イオンミリング装置のご紹介
近年、断面観察や結晶方位解析の要求が高まってきています。 今回、断面仕上げで注目されているイオンビームを利用した日立イオンミリング装置を紹介します。
100名
16:30〜16:55 A-1 新機能を搭載したZ-2010シリーズ 原子吸光光度計のご紹介
グラファイトファーネス分析において最適温度プログラムを自動作成できる新機能も搭載した日立の新たな原子吸光光度計と、それらの機能を用いた最新の分析アプリケーションを紹介します。
100名
8/31
(金)
時間 会場 テーマ 定員
10:30〜10:55 A-2 低分子化合物分析への前処理アプローチ「日立ノビアス(NOBIAS)シリーズ」
生体・食品試料中の高分子化合物マトリックスの除去と低分子化合物精製前処理のポイントを紹介します。目的の測定結果を得るために、試料の前処理分野の検討はいかがでしょうか。
100名
11:35〜12:25 A-8 日立超高速液体クロマトグラフ LaChromUltra(LCU)のご紹介
分離効率を維持したまま、汎用LCと比べ分析時間が従来の約1/10に短縮できる日立のLCU(当社比)。装置とともに、LaChromUltra C18シリーズカラムを用いて汎用LCからLCUへのメソッドトランスファ方法を紹介します。
100名
12:30〜12:55 A-4 日立卓上顕微鏡Miniscope+EDX分析装置のご紹介
より迅速な形態観察とX線分析が可能な装置を開発しました。今回は、その特長と応用データを紹介します。
100名
13:50〜14:15 A-2 固体蛍光測定のツボ!〜最新アプリケーションを例に〜
今や当たり前となりつつある固体試料の量子収率測定。効率よく測定を行なうために、日立ではソフトウェアに新機能を搭載します。最新アプリケーションを例に、測定方法・ノウハウを紹介します。
100名
15:50〜16:15 A-2 最新のFIBアプリケーション
近年、TEM試料だけでなく、SEM試料の作製にもFIBの利用が広がっています。従来の2倍の加工速度をもつ新形カラムにより、FIBの常識が一変します。
100名




ブース内セミナーのご案内
日立ハイテク ブース内、セミナーコーナーにて15分および30分のセミナーを実施いたしました。
定員 各15名
受講料 お申し込み受付は終了いたしました。
セミナー所要時間 B:30分 / A・sC 〜J:15分

実施スケジュール
時間 8/29(水) 8/30(木) 8/31(金)
11:00 E D J
11:30 F A E
12:00 G B F
12:30 H - H
13:00 I C I
13:30 D J G
14:00 A E D
14:30 B H A
15:00 - G B
15:30 C F -
16:00 J I C

セミナータイトル
A HPLCを"さらに"上手に使いこなすコツ
B LaChromUltra 最新機能および最新カラムアプリケーションのご紹介
C 何ができるの? LC-MS/MS アプリケーションのご紹介
D ノビアス(NOBIAS)固相抽出の食品・環境分析への応用 〜前処理トラブルの解決ヒント集〜
E さらに使いやすく〜新形原子吸光 Z-2010シリーズ
F 日立分光光度計、蛍光光度計を用いた材料分析
G 日立卓上顕微鏡Miniscope+EDX分析装置のご紹介
H イオンミリング装置による最新のSEM用断面試料作製技術のご紹介
I 低真空SEMを用いた材料評価のための最新技法のご紹介
J 最新形自動水分測定システムで省力化を推進!

*出展製品やセミナー内容、スケジュールは予告なく変更される場合がありますので予めご了承ください。


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