セミナーのご案内

サーモフィッシャー・日立ハイテク共催 ソリューションセミナー2011 分析技術セミナー【元素分析・異物分析の基礎と応用】（札幌）
このたび皆さまのお仕事に役立てていただけるようサーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社に共催し、セミナーを開催いたします。 本セミナーでは進歩し続ける様々な分析装置からICPなどの元素分析装置、FT-IRなどの分光分析装置、卓上顕微鏡などの電子顕微鏡をピックアップ。 分析手法の基礎から最新の分析技術、アプリケーションをご案内し、その有効な活用方法をご紹介します。 みなさまのご参加をお待ちいたしております。
開催日	2011年09月22日（木）
開催時間	13:00〜17:00（受付開始 12:30〜）
開催地	北海道
会場	札幌サンプラザ 2F 「玉葉の間」
所在地・交通案内	北海道札幌市北区北24条西5丁目  地図・交通案内
参加費	無料
定員	50名
お申し込み	受付は終了いたしました。 多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
問い合わせ先	サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 マーケティングコミュニケーションズ TEL：045-453-9212

時間	テーマ/内容
12：30〜	受付開始
13：00〜13：10	ご挨拶
13：10〜14：00	分析基礎講座（1） ≪元素分析の基礎（原理と干渉に関して）≫ 基礎セミナー的な内容で、元素スペクトル分析の原理、各分析手法の特長と比較について紹介します。原子スペクトル分析につきもののスペクトル干渉を中心に、分析上の留意点や誤分析の例と対策法を紹介します。
14：00〜14：40	分析基礎講座（2） ≪赤外・ラマンの組み合わせ分析技術　−　基礎と分析例≫ 赤外とラマンにはそれぞれの得意分野があります。相補的な分析手法であるFT-IR/ラマンの両方を使った問題解決のノウハウをご紹介します。
14：40〜15：00	休憩
15：00〜15：40	異物観察分析講座（1） ≪赤外微小異物、介在物の分析事例≫ 異物、介在物の混入による不良の根本原因究明には、機器分析によるアプローチが不可欠です。観察から解析に至る異物分析のフロー、解析結果が確実になる分析手法の組み合わせとその事例をご紹介します。
15：40〜16：30	異物観察分析講座（2） ≪卓上顕微鏡による微小異物分析事例≫ 近年開発された新型卓上顕微鏡の開発により走査電子顕微鏡（SEM）によるX線分析（EDS）が非常に簡便になりました。試料を前処理なしで導入できる卓上顕微鏡をアスベスト分析、食品分析、セラミクス分析など豊富なアプリケーション事例と共にご紹介いたします。  日立卓上顕微鏡 Miniscope®　TM3000
16：30〜16：40	質疑応答