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ここからブレッド・クラム ホーム > 製品情報質量分析装置(LC/MS、GC/MS他)ICP質量分析装置

ICP質量分析装置 XシリーズII


ICP質量分析装置 XシリーズII 日立ハイテクよりご提供させていただいたICP質量分析装置は、当社でサポートさせていただきます。

XシリーズIIは、コンパクトで高性能な装置です。
ベンチトップ型四重極型ICP-MSとしては非常に設置面積が小さく、革新的なイオンレンズとインフィニティイオン光学系(6重極とシケインイオンディフレクターで構成)によって極めて高い感度性能と低バックグランド性能を達成しました。
新しい2種類の交換可能なインターフェイスと分解能自動調整によって測定下限性能と測定上限性能をともに改善しています。
さらに、第3世代のコリジョンセルテクノロジ(CCT)によってあらゆる分析対象で非常に優れたS/N比を提供します。使用するガスはHeベースで取り扱いや保管が安全で、腐食等の危険もありません。
本システムはユーザーメンテナンスを極力減らすように設計されており、真空チャンバー内はメンテナンスフリーで安定稼動できます。
ICP-MSユーザーにとって、もっとも重要なポイントのひとつであるメンテナンス性において大きなアドバンテージを有しています。

価格:お問い合わせください
 最新トピック:「アプリケーションデータ:ICP質量分析装置(ICP/MS)」公開!
ICP質量分析装置(ICP/MS)に関するアプリケーションデータをご案内します。
「バイオ・食品」分野の全てのデータをご紹介します。ICP/MSで何がわかるのか?、ぜひご活用ください。
 特長  前処理固相充填カラム NOBIAS(ノビアス)シリーズ
 アプリケーションデータ  

特長


XシリーズII ICP-MSは、20年以上にわたる経験と独創的なテクノロジをさらに磨き上げて完成した高性能装置です。最低限のメンテナンスで連続して安定稼動し、生産性の高いルーチン分析と高度な研究分析の両目的に適しています。
最小のベンチトップ型
最高の検出能力、バックグラウンドは<0.5cps
お客様のニーズに合わせて機能をインテグレートでき、ご購入後のオンサイトアップグレードも可能な設計
高マトリックスに適した2種類のインターフェイスの交換により環境分析(Xtインターフェイス)にも半導体分析(Xsインターフェイス)にも対応可能
第3世代のCCTオプションによりコリジョン(エネルギー分別)とリアクションの使い分けが可能
ホット、クール、コリジョンセルの3つのモード分析を1台で自動切換し、すべての分析元素に最適条件を実現
ユーザーメンテナンス部分を減らし、質量分析計部はメンテナンスフリー、検出器もユーザーに交換可能
公定分析に対応した精度管理ソフトウェア
オートサンプラー、インテリジェント自動希釈装置、レーザーアブレーション装置、LC/GCインターフェイスキットなど各種アクセサリーとの接続が可能

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仕様の詳細・価格等に関しましては、営業担当者ご訪問時にご相談させていただきます
  価格・外観写真は、製品の仕様や構成により異なります。  
  価格には、消費税額等は含まれておりません。  


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