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ここからブレッド・クラム ホーム > 製品情報分光分析装置フーリエ変換赤外分光装置(FT-IR)

顕微赤外システム Nicolet Continuμm


顕微赤外システム Nicolet Continuμm リサーチグレード顕微赤外システム Nicolet ContinuμmはInfinity光学系を採用し、視野を明確に捉え、かつ高いスループットを実現しました。測定中も常時、鮮明なコントラストで可視観察することができます。
さらに特許のデュアルマスキング方式により、目的部位のみの正確なスペクトルを得ることができます。微分干渉コントラスト(DIC)蛍光イルミネーションなど、多彩なオプションも用意しています。
特許のReflexTM アパーチャは、赤外光を試料前後でマスクするデュアルマスキングを可能にし、迷光をカットして必要な領域のみの赤外スペクトルを測定することができます。アパーチャサイズの設定は、Tru-View機能により試料全体を見ながら、可視ビデオイメージ上でボックスを描くだけ。シンプルで正確なマスキングの操作環境を提供します。

価格:\10,400,000〜
 最新トピック:「アプリケーション:フーリエ変換赤外分光装置(FT-IR)」公開!
フーリエ変換赤外分光装置に関するアプリケーションデータをご案内します。
「バイオ・食品」「環境」「化学・材料」「エレクトロニクス」の各分野の全てのデータをご紹介します。FT-IRの測定で何がわかるのか?、ぜひご活用ください。

特長


  • サーモフィッシャーサイエンティフィックの最高技術が結集された画期的な顕微赤外システム


  • Tru-View機能により常時(測定中も)測定部が明確なコントラストで観察
    Tru-View機能 Tru-Viewによる同時観察機能

  • 抜群のスループット、新型Tip ATRアクセサリで、溝の部分や微小異物を高感度で測定
    新型 Tip ATRアクセサリ

  • サーモフィッシャーサイエンティフィックだけの屈折率補正機能付きカセグレン、デュアルマスキング方式により、迷光のない正確なスペクトルを測定
    Reflex アパーチャによるデュアルマスキング方式
    特許のデュアルマスキング
    3層ラミネートフィルム切片の中間層を透過法で測定
    デュアルマスキングによる迷光のないスペクトル測定

  • 測定/観測、透過/反射モード等の切替や、フォーカス、アパーチャ、ステージなどの操作が自動化されているため、誰でも簡単に操作が可能


  • 2台同時に検出器搭載可能
    サーモエレクトロン製MCT 検出器 イメージングシステムへの
    アップグレードも可能

  • OMNIC Atlμsソフトウェアと電動ステージによる高速マッピング
    モザイク機能 高速マッピングと
    ケミカルイメージ測定

  • 微分干渉コントラスト、蛍光イルミネーションなど多彩な観察機能
    DIC(微分干渉コントラスト)機能
    微分干渉法による高コントラスト観察
    コーティング表面の異物の検出例
    蛍光イルミネーションによる不可視の異物の観察とTru-Viewによるスペクトル測定

  • 豊富で便利なマイクロサンプリングツールが標準で付属
    サンプリングキット

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  本ページで使用または表示される製品名、名称は、米国 Thermo Electron Corpolation および米国、他の国における子会社、関連会社の商標または登録商標です  
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  価格には、消費税額等は含まれておりません  

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