日立分光光度計 U-4100 近赤外測定システム

日立分光光度計 U-4100
近赤外測定システムは、近赤外用検知器としてInGaAsを採用したもので、反射率（透過率）の低い領域でノイズ低減効果が顕著です。光通信分野でしようされているAR（反射防止）コートの測定などに効果を発揮します。
上記写真：U-4100 近赤外測定システム （標準試料室）	システム構成 試料室 標準試料室 大形試料室 分光器 グレーティング・グレーティング 検知器 標準積分球 測定波長範囲 240〜1,700nm 試料サイズ 最大200×200mm 最大430×430mm 価格： \8,000,000〜(標準試料室タイプ、PC含まず）

特長

	本付属装置は、U-4100形分光光度計の固体試料測定システムおよび大形試料測定システムにInGaAs検知器を組み込んだ装置です。波長850〜1,600nmにおいて、PbS検知器より高感度で低ノイズのデータが得られます。

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