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ここからブレッド・クラム ホーム > 製品情報分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL他)分光光度計

日立真空紫外分光光度計 U-7000


日立真空紫外分光光度計 U-7000 U-7000は紫外−真空紫外域の光学特性評価が可能な分光光度計です。実績ある日立分光技術を用いた高精度測定に加え、高速スキャン、複数試料の同時測定が可能なサンプルターレット機構、高速の真空排気、N2パージにより、真空紫外域でも高スループットの測定ができます。

価格: \29,500,000〜

 
 最新トピック:「分光光度計 基礎講座 <第6回 分光光度計の仕組みについて>」のご紹介!
第6回は、ここまでの内容をふまえ「人間と分光光度計の違い」について大まかな仕組みをご説明します。
次回は「光学系」をご説明いたします。装置の専門的な内容に入る前にぜひこれまでの内容を復習ください。
 特長  仕様
 特別付属品(別売オプション)  アプリケーションデータ
 分光光度計 基礎講座  
 

特長


完全対称ダブルビーム光学系による高精度測定が可能です。
試料室、分光器の個別排気により真空排気/N2パージの待ち時間短縮を実現しました。
サンプルターレット機構により、複数試料の同時測定が可能です。
高速スキャンによる高スループット測定が可能です。
快適な操作性とフレキシビリティの高いシステムです。
UV Solutionプログラムにより、快適な分析環境と自動化を実現できます。
真空制御機能
真空排気、大気開放、N2パージ全ての真空制御機能を3つのボタンに集約しています。
測定データの重ね書きファイル自動作成機能
測定データの重ね書きを自動で行う機能が追加されました。従来ルーチン作業で行うオペレータの負担要因であった複数データの処理作業が快適に行えます。
自動サンプル測定機能
サンプル毎の分析条件を設定することで、複数サンプルの測定から保存まで一連の処理を全て自動で行います。(最大5サンプル)
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仕様


項目 内容
光度計 測定波長範囲
光学系
  光源
  回折格子
  バンドパス
  同時測定可能サンプル数
(標準ディスク使用時)
130〜380nm
(オプションで115nmまで波長範囲拡大)
f=200mm瀬谷−浪岡マウント
セクタミラーによるダブルビーム光学系
D2ランプ
MgF2オーバーコート
機械刻線収差補正凹面回折格子
0.5〜8nm(連続可変)
5(透過・反射共)
排気系 粗引きポンプ
  主排気ポンプ
  試料室真空排気時間
ドライスクロールポンプ(オプション)
ターボポンプ(×2)
10min以下
データ処理 使用OS
  測定モード
Windows XP
波長スキャン測定、時間変化測定
性能 ベースライン平坦度
ノイズレベル
±0.005Abs(130〜185nm)
±0.005Abs(157nmにおける0Absノイズ)
必要設備等 装置サイズ
電源
冷却水
Air供給
N2供給(N2パージ時のみ)
1,300(W)×1,060(D)×1,400(H)(mm)
(設置面積2,000×2,000mm以上)
本体:単相200V(9A以上)/PC: 単層100V(15A)
1.5L/min以上
0.5MPa以上
0.5MPa以上(流量50L/min以上)


特別付属品(別売オプション)


項目
ドライスクロールポンプ
Airコンプレッサ
サーキュレータ

  注)パーソナルコンピューターの機種は、モデルの改廃に伴い変更する場合があります  
  価格・外観写真は、製品の仕様や構成により異なります  
  価格には、消費税額等は含まれておりません  

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